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簡要描述：多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。 可對應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學(xué)系，輕便小型，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-02-14
訪 問 量：1058
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。
可對應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學(xué)系，輕便小型，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。
特點(diǎn)
1、只需一臺，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
2、低濃度到高濃度都可對應(yīng)
3、高速測量，標(biāo)準(zhǔn)時間1分鐘
4、搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
5、多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
6、搭載溫度梯度功能
測量范圍
1、粒徑 0.6nm～10μm
2、濃度范圍 0.00001～40％
3、溫度范圍 0～90℃*
產(chǎn)品規(guī)格
型號 | 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng) |
測量原理 | 動態(tài)光散射法 |
光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
檢出器 | 高感光度APD |
連續(xù)測量 | 5檢體 |
測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
對應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
重量 | 約18 kg |
軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
粒度分布解析 | |
（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） |
1、根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級別區(qū)分，本儀器的安全級別為1級。
2、Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%。
3、標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
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